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二维材料 —— 半导体 > 二硒化钨(WSe2)
二硒化钨(WSe2)
半导体
2H-WSe2是间接带隙约为1.3eV的半导体,单层2H-WSe2具有直接带隙。层间通过范德华力相互作用堆叠在一起,可机械剥离成二维单层。2H-WSe2晶体为P型半导体,通过掺杂可以获得N型半导体, 载流子浓度为~1015cm-3,晶体呈六边形形状,并具有金属外观。
名称 |
二硒化钨(WSe2) |
规格尺寸 |
横向尺寸:6-8mm,厚度:0.1-0.4mm |
熔点(℃) |
— |
纯度(%) |
>99.995 |
材料性质 |
半导体材料 |
晶体特征 |
Eg:1.3ev |
晶体结构 |
六方晶系 |
晶格常数 |
a=b=0.328nm,c=1.298nm,α=β=90°,γ=120° |
生长方法 |
CVT 化学气相传输法 |
备注 |
— |
*我们的单晶在生长后会经过XRD, EDX, Raman等手段进行表征,如有需要,可以跟我们销售人员索取库存产品的检测报告。