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二维材料 —— 半导体 > 二硒化钨(WSe2)

二硒化钨(WSe2)

半导体

2H-WSe2是间接带隙约为1.3eV的半导体,单层2H-WSe2具有直接带隙。层间通过范德华力相互作用堆叠在一起,可机械剥离成二维单层。2H-WSe2晶体为P型半导体,通过掺杂可以获得N型半导体, 载流子浓度为~1015cm-3,晶体呈六边形形状,并具有金属外观。

名称

二硒化钨(WSe2)

规格尺寸

横向尺寸:6-8mm,厚度:0.1-0.4mm

熔点(℃)

纯度(%)

99.995

材料性质

半导体材料

晶体特征

Eg1.3ev

晶体结构

六方晶系

晶格常数

a=b=0.328nmc=1.298nmα=β=90°γ=120°

生长方法

CVT 化学气相传输法

备注


*我们的单晶在生长后会经过XRD, EDX, Raman等手段进行表征,如有需要,可以跟我们销售人员索取库存产品的检测报告。

嘿,我来帮您!
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